| 加工定制：是 | 品牌：派捷 | 型号：ATE测试治具 |
| 测量范围：1%-*** | 测量精度：1% | 产品用途：测试PCB线路板的优良程度，可测试缺件，错料，电子元件正反向 |
1、定义： ATE测试系统是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。 根据开发人员提供的测试程序来测试PCB线路板的优良程度，可测试缺件，错料，及一些电子元件的正反向，IC的功能状态引脚的冷焊，虚焊等
2、范围： ATE可分为以下几种类型： a.数字测试系统—— 共享资源测试系统,每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集成电路的逻辑功能。如科利登的SC312和Quartet。 b.线性器件测试系统——用来测试线性集成电路的测试系统。 c.模拟测试系统——用来特性化测试集成电路的模拟功能。如科利登的ASL系列。 d.存储器测试系统 － DRAM 测试系统,闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片。如科利登的Personal Kalos和Kalos系列,Agilent 的Versatest系列, Advantest的T5593。 e.板测试系统 － 板测试是用来测试整块印制电路板,而不是针对单个集成电路。如泰瑞达的1800。 f.混合信号测试系统——这种类型的系统资源用来测试集成电路的模拟及数字功能。 如科利登的Quartet系列。 g.RF测试系统——用来测试射频集成电路的测试。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon。 h.SOC 测试系统——通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统,用来测试超大规模集成电路（VLSI）芯片;并且这种超大规模集成电路（VLSI）芯片的集成度比传统的混合信号芯片高得多。如科利登的Octet系列, Agilent的93000系列, Advantest的T6673。 ATE开发是从简单器件、低管脚数、低速测试系统（10 MHz, 64 pins）到中等数量管脚、中速测试系统（40 MHz, 256 pins）到高管脚数、高速（超过100 MHz, 1024 pins）并最终过渡到现在的SoC测试系统（1024 pin, 超过400MHz,并具备模拟、存储器测试能力）。
3、内容： ATE测试系统及治具制作流程： 3.1 ATE测试系统及治具控制方式的选择。 3.2 ATE测试系统及治具的设计 3.3 ATE测试系统及治具组装调试。 3.4 ATE测试系统及治具检验标准. 3.5 ATE测试系统及治具使用注意事项。 3.6 ATE测试系统及治具的保养。
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