供应BGA测试仪/芯片静态测试/PTI-818在线测试仪/IC测试仪设备/优质低价详细介绍

目前IC使用率增长随之不良率及反修率也越来越高，PTI818BGA测试仪可以测试IC各脚之间开短路，对GND和VCC的clamp diode,对地及相关脚的电阻及电容，对IC上电，量测关键点的电压等手段检测出不良IC，并能对不良情况进行统计，以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革，为BGA封装不良返修测试提供行之有效测试解决方案。

·PTI-818测试仪产品特点：

1、模块化设计，为扩展多种功能提供了测试平台。

2、丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的***了稳定性和测试覆盖率。

3、测试程序全部自动生成并ATPD（Auto Test Program Debug）。

4、Board View功能可即时显示不良脚位，针点位置，方便检修。

5、完整丰富的测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据。

6、 PTI818 BGA测试仪系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

7、支持GPIB外围设备扩展功能。

 
·测试项目：

?封装与晶圆锡球接点的开短路测试。
?IC内部的开短路测试。
?IC内的保护二极体测试。
?Pin to Pin、Pin to GND、Pin to VCC　阻抗比对测试。
?Pin to Pin、pin to GND、Pin to VCC　电容比对测试。
?IC载板上元器件值的测试 。
?对ＩＣ上电，测试关键点的电压，来检测内部功能。
? 通用ＧＰＩＢ扩展来量测ＩＣ关键点波形，频率等参数。

·系统规格                                

测试点数：1、标准配备:320点                               

          2、大型主机:可以扩充至4096点                                  

测试项目:     

       测试步骤:300000setp                                 

测试时间:     

       开路/短路测试:每1000点约≤1Sec(Typical DUT)                     

测试范围:

   电阻: 0.01Ω至40MΩ                                   

     电容:0.1pF至10000uF                             

     电感：1.0uH至60H                                

     二极管/三极管：0.1至9.99V                            

      Zener Diode:标准0.1V至50.0V                               

·功能测试：0.00V至50V                                      

·软体系统：    "支持winxp,win2003,winvisat/多语言"

·应用领域：
一，IC品质不高的来料检查，查出率在99.5%以上，且速度快。

二，大批量返修IC的检测。

三，不良IC的故障原因的查找及统计，以便改进设计。

联系方式：1、阿里旺旺：深圳市派捷电子科技
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